產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
Element美國(guó)EDAX能譜儀
EP6美國(guó) Cascade Microtech EP6探針臺(tái)
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
主動(dòng)隔振臺(tái)ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
P170全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
P7晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
納米團(tuán)簇束流沉積系統(tǒng)
Profilm 3D經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價(jià)比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心掃描熱學(xué)顯微鏡VertiSense掃描熱學(xué)顯微鏡
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
掃描熱學(xué)顯微鏡：本設(shè)備通過使用特殊帶熱電偶的針尖，掃描樣品時(shí)，熱電偶的溫度，通過熱信號(hào)成像放大器，通過AFM處理，同時(shí)得到熱成像圖和形貌圖?？梢缘玫蕉繙囟确植汲上駡D，和定性熱導(dǎo)率分布圖。針尖的設(shè)計(jì)，可以達(dá)到小于50nm的熱空間分辨率。
product
產(chǎn)品分類| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 其它 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子/電池,電氣 |
掃描熱學(xué)顯微鏡
簡(jiǎn)介：
1) 納米級(jí)精確的溫度測(cè)量；
2) 超高掃描熱性質(zhì)的空間分辨率成像；
3）靈敏的溫度和熱導(dǎo)率響應(yīng)；
4）支持多種掃描模式（輕敲，接觸，峰值力等模式）
掃描熱學(xué)顯微鏡參數(shù)：
掃描熱學(xué)顯微鏡：本設(shè)備通過使用特殊帶熱電偶的針尖，掃描樣品時(shí)，熱電偶的溫度，通過熱信號(hào)成像放大器，通過AFM處理，同時(shí)得到熱成像圖和形貌圖。可以得到定量溫度分布成像圖，和定性熱導(dǎo)率分布圖。針尖的設(shè)計(jì)，可以達(dá)到小于50nm的熱空間分辨率。掃描熱學(xué)顯微鏡：本設(shè)備通過使用特殊帶熱電偶的針尖，掃描樣品時(shí)，熱電偶的溫度，通過熱信號(hào)成像放大器，通過AFM處理，同時(shí)得到熱成像圖和形貌圖?？梢缘玫蕉繙囟确植汲上駡D，和定性熱導(dǎo)率分布圖。針尖的設(shè)計(jì)，可以達(dá)到小于50nm的熱空間分辨率。掃描熱學(xué)顯微鏡：本設(shè)備通過使用特殊帶熱電偶的針尖，掃描樣品時(shí)，熱電偶的溫度，通過熱信號(hào)成像放大器，通過AFM處理，同時(shí)得到熱成像圖和形貌圖?？梢缘玫蕉繙囟确植汲上駡D，和定性熱導(dǎo)率分布圖。針尖的設(shè)計(jì)，可以達(dá)到小于50nm的熱空間分辨率。
上一個(gè)：
返回列表
